JM-3B振動校驗裝置

JM-3B振動校驗裝置用于傳感器出廠檢驗和用戶驗收電渦流位移傳感器線性的必要工具，為了確保傳感器符合本公司出廠線性度、靈敏度要求，都需要使用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀校驗以及對位移類測量儀表系統(tǒng)的標(biāo)定。 

    用靜態(tài)位移校驗儀檢驗傳感器的線性特性曲線時，通常將傳感器的滿有效線性量程按20個等分點進(jìn)行校驗（若為φ8探頭電渦流傳感器，其本身有效線性測量量程為2mm，當(dāng)按20個等分點進(jìn)行校驗時，即每移動試盤0.1mm后在前置器上讀出一個數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線性特性曲線，分析傳感器輸出曲線非線性誤差是否滿足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來測量誤差。
    用靜態(tài)位移校驗儀檢驗傳感器的線性特性曲線時，通常將傳感器的滿有效線性量程按20個等分點進(jìn)行校驗（若為φ8探頭電渦流傳感器，其本身有效線性測量量程為2mm，當(dāng)按20個等分點進(jìn)行校驗時，即每移動試盤0.1mm后在前置器上讀出一個數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線性特性曲線，分析傳感器輸出曲線非線性誤差是否滿足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來測量誤差。

 

當(dāng)按20個等分點進(jìn)行校驗時，即每移動試盤0.1mm后在前置器上讀出一個數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線性特性曲線，分析傳感器輸出曲線非線性誤差是否滿足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來測量誤差。